Name: SG-i
Brand: 光焱科技股份有限公司
SKU: SG-i

SG-i

型號 : SG-i

數量 :

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型號	項目	規格
1	SG-i-PTC 圖像感測器測試系統主機（內含）	1. RGB 三色光源 2. 光斑均勻性 99% 3. 四個數量級的光強變化
1.1	單色光可調光源模組	1. 單色光發光波長紅光：635nm±10nm@FWHM：15 ±10 nm 綠光：525nm±10nm@FWHM：30 ±10 nm 紅光：465nm±10nm@FWHM：20 ±10 nm 2. 均光面積：10×10mm，>99% 3. 工作距離：距離發光口 25cm 4. 光源不穩定度 <±0.3% 5. 單色光發光強度紅光：30μW/cm2 （約 50 Lux）綠光：20μW/cm2 （約 100 Lux）藍光：30μW/cm2 （約 7.5 Lux） 6. 最小發光強度紅光：0.3 μW/cm2 （約 0.4 Lux）綠光：0.6 μW/cm2 （約 2.0 Lux）藍光：0.9 μW/cm2 （約 0.4 Lux） 7. 光強調節範圍：手動粗調：10 倍，100 倍三級強度衰減，手動更換自動細調：電腦控制 0-100% 強度調整，0-255 調整精度，重複精度優於 1% （信噪比100 以上） 8. 光源壽命：10000 小時
	近紅外光光源	1. 發光波長：940 nm ±10 nm @ FWHM：45±5 nm 2. 均光面積：10×10mm，> 99% 3. 工作距離：距離發光口 25cm 4. 光源不穩定度 <±0.3% 5. 發光強度：> 30μW/cm2 6. 可相容單色光可調光源模組, 手動改換光源
1.2	光能量校正模組	1. 探頭校正波長範圍：400-1000nm，溯源美國 NIST，ISO17025 標定證書 2. 標定波長間隔 10nm 3. 面積 10×10mm2 4. BNC 介面
1.3	控制系統	最新配置工控機，LCD，4GB RAM，DVD，Windows 7 系統或以上
1.4	測量暗室	1. 暗室尺寸：85×80×90cm（長寬高） 2. 低暗室環境噪音 3. 具塗層隔離環境雜散光
1.5	圖像採集	圖像採集卡介面：USB，GigE
1.6	相機樣品台	1. 三軸精度微調台，樣品載具 2. 樣品載具移動滑台移動行程：±55mm 3. 三軸精密微調台移動行程：±6.5mm 4. 旋轉定位台旋轉角度：0°-360° 四點定位點：0°，90°，180°，270°
1.7	鐳射輔助對準系統	1. 外置高精度雷射器 2. 十字對準鐳射 3. 波長：635nm
1.8	系統控制軟體	1. 三色波長光源切換功能 2. 變光強調整功能
1.9	SG-i-SWE PTC 測量分析軟體	1. 測量參數：光電響應動態範圍 DR 光電回應不均勻度光電回應線性度暗輸出不均勻性 NUD 系統增益G 暗雜訊飽和度單波長量子效率/光譜響應測試連續波長量子效率/光譜響應測試（搭配相關硬體） 2. 離線圖像分析功能 3. 自動測量功能（相機需要可以被系統控制）
1.10	SG-i-HDR 全波長光強度調控模組	全波長高動態範圍光強度變化功能 1. 自動線性光強調節器連續細調光強變化：光強控制範圍 0-100%，掃描精度 1% ，重複精度優於 3%，電腦自動控制或手動開關
1.11	SG-i-QE 全波長量子效率測量模組	連續譜QE測量功能 1. 全波長可調光源分光模組 2. 75W 氙燈白光光源 3. 橢圓聚光光學系統 4. 波長範圍：300-1100nm 5. FWHM：10nm，5nm，3nm手動更換 6. 最小切換波長：1nm 7. 波長重複性可達 0.2nm，準確度可達 ±0.2nm 8. 光源不穩定性 <1% 9. 自動雜光濾鏡組，濾除單色光雜光 10. 准直均勻光光學系統 11. 均光面積： 40×40mm（光斑照射面積) 10×10mm（均勻性 >99%） 12. 最大光強： 450 nm: > 16 uw/cm2 530 nm: > 11 uw/cm2 650 nm: > 5 uw/cm2 940 nm: > 1 uw/cm2 13. 具備常規 RS232 通訊 14. 可測量參數全波長量子效率測量全波長光譜回應測量

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