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LED 絕對螢光量子產率測試儀
發光材料電致發光/光致發光量測系統 (LQ-100) 可測試發光材料之發光光譜
LQ-100 提供測量 LED 與發光材料發光特性的最佳測量系統,採用 4” PTFE 高反射率積分球,收集 LED 各角 度發光,能精準地測量 LED 發光材料:(1) EQE 外部量子效率 (2) PLQY 熒光量子產率 (3)各項參數值:電流 效率(cd/A)、發光效率 (lm/W)、絕對輻射光通量 (lm)、光度 (cd)、輝度 (cd/m2)、CIE 色度圖、IV Curve、壽 命測試等等;可應用於發光器件發光效率的研究,並檢測元件特性優劣分析。
L Q 1 0 0 指 標 文 獻 引 用
S O L A R ™ E L 太 陽 能 電 池 E L 光 譜 測 試
圖: 積分球
圖: 405 nm 雷射
圖: 多通道光譜儀測試系統
型號 | 項目 | 規格 |
---|---|---|
1-1 |
LQ-100R 發光效率測量系統 |
- 採用積分球測量系統 :產業化 LED 標準 - 準確測量絕對輻射光通量 (lm) 與功率 (W) - LED EQE 最低亮度測量能力可 < 0.1cd/m2 - 智能調變光譜儀曝光時間,提升測試速度 - 多種 LED EQE 測試夾具 - 支持多種源錶 |
1-2 | 100 mm 積分球 |
- 100 mm 積分球 - 鋁合金外殼 |
1-3 |
HS3011-PMT 增強型多通道光譜儀測試系統 |
- 波長範圍: 350 - 1100 nm - 波長解析度: 0.35 – 1 nm (依實際光柵與狹縫而定) - 靈敏度可 < 0.1 cd/m2 |
1-4 | 訂製化 EL 測試夾具 |
訂製化背探針夾具盒 - 依據客戶樣品客製夾具 |
1-5 |
LQ-SW EL 測量軟體 |
- 支援所有 CIE 相關參數 - LIV 掃描曲線與圖面輸出 - 老化記錄功能 - 可搭配多款源表 |
選配型號 | 選配項目 | 規格 |
---|---|---|
2-1 | 電源電表 |
- Keysight B2901A / B2911A / B2912A - Keithley 2400 Series - Keithley 2600 Series |
3-1 | 光致發光量測模組 |
PL 光譜整合測試 - 405 nm 雷射器 - PL 薄膜樣品架 |
3-2 | PL 量測軟體 |
- 絕對螢光量子產率 PLQY 測試軟體 - 光致發光量子產率 PLQY 計算 - 螢光光譜 Peak/ 半寬分析,強度-波長圖 |
4 | 手套箱整合套件 |
特點:
- 針對新型電致發光材料設計
- 快速超低亮度 0.1 cd/m2 測量能力
- LED 老化測量功能
- 絕對外部量子效率測試
- 可與手套箱整合
- 具備 NIR 波段 (700 - 1000 nm) 測試能力
- LED 全參數測定能力
LQ-100 特色
● 採用 PTFE 積分球測量系統:產業化LED的標準
● 準確測量絕對輻射光通量(1m)與功率(W)
● LED EQE 最低亮度測量能力可 < 0.1 cd/m2
● 智能調變光譜儀曝光時間,提升測試速度
● 多種 LED EQE 測試夾具
● 支持多種源錶
● 手動多點切換器
● (選配)可升級發光材料 PLQY 測量功能
● (選配)SOLAR-ELTM 太陽能電池 EL 與 PL 光譜測試模塊
LQ-100 | PLQY | LED EQE |
---|---|---|
測試能力 | QY<1%/td> |
EQE:min 0.1% 亮度:min 0.05 cd/m2 電流效率:6000 cd/m2:<50 ms |
光譜測試速度 | 1 ms ~ 1 sec | 高亮度>6000 cd/m2:<50m2 |
光譜測試範圍 | 350~1000 nm | 350~1000 nm |
測 試 速 度 決 定 器 件 效 率
低 亮 度 快 速 、 準 確 測 量 能 力
● 無法取得完美 EQE 曲線原因
● 超靈敏光探測器
L E D 器 件 老 化 測 試 記 錄 功 能
固定電流或電壓,量測器件亮度與發光效率等 參數對時間的變化,亦是新器件科研重點
● V-t Curve:定電流下電壓對時間的曲線
● J-t Curve:定電壓下電流密度對時間的曲線
● I_Eff-t Curve:電流效率 (Current Efficiency) 對時間的曲線
● P_Eff-t Curve:功率效率 (Power Efficiency) 對時間的曲線
● EQE-t Curve:外量子效率對時間的曲線
● L-t Curve:輝度對時間的曲線
積 分 球 式 全 光 譜 效 率 測 量
● 無機 LED 測試 ➤不重複性 < 0.2 %
LQ-100 可快速測試每個電壓下的發光光譜,並可取得 輻照度、輝度、CIE 座標等多項參數值。
發光光譜 | 單點光譜測量時間 |
---|---|
高亮度>6000 cd/m2 | < 50 ms |
低亮度>100 cd/m2 | < 100 ms |
超低亮度>10 cd/m2 | < 0.5 ms |
● NIST 溯源-準確度測試 ➤差異值 < 0.5 %
LQ100 為 NIST 溯源,與國外校正的白光與綠光 LED 比對,差異值均小於 0.5 %
Certified Value (lm) | LQ-100 (lm) | Deviation(%) | |
---|---|---|---|
G-LED | 3.426 % | 3.453% | 0.39 % |
W-LED | 4.652% | 4.629% | 0.25 % |
1. LED / 發光器件 EL spectrum太陽能電池電致發光光譜
2. LED / 發光器件 EL EQE
3. LED / 發光器件 PL spectrum (NIR)
4. LED / 發光器件 PL quenching rate analysis
5. LED / 發光器件 PLQY
PLQY 測量:
目前鈣鈦礦 LED 效率發展快,但獲得準確的測量數據是研究人員面臨最大的挑戰!
鈣鈦礦 LED 擁有以下特性:
低亮度、衰減快
發光半寬 (FWHM) 窄
非 Lambertian 分佈
高效率紅外光發展
輝度值 | 單點光譜時間 |
---|---|
高亮度:>6000 cd/m2 | <50 ms |
低亮度:>100 cd/m2 | <100 ms |
超低亮度:>10 cd/m2 | <0.5 sec |
不同電流密度下量子效率測量
圖: 軟體畫面
Latest publications referencing PLQY EL
Xiaolei Yang, Xingwang Zhang, Jinxiang Deng, Zema Chu, Qi Jiang, Junhua Meng, Pengyang Wang, Liuqi Zhang, Zhigang Yin and Jingbi You
Nature Communications, Volume 9, Article number: 570