MV-IS光電圖像傳感器量子效率測試系統

型號 : MV-IS

MV-IS是光焱科技針對CCDCMOS影像感測器和攝像頭開發的評價系統。利用專利的均勻光技術比傳統積分器提供更強的光強,獨家的單色儀分光技術,可以測試波長解析度達到0.1 nm,大大提高了測試的準確性。測量的波長範圍可擴展到300 nm~1100 nm,是一款高性能的感測器綜合測試系統。


項目 規格
MVIS-PTC
圖像感測器測試系統主機
a. RGB三色光源
b. 光斑均勻性99 %
c. 四個數量級的光強變化
單色光可調光源模組 a. 單色光發光波長
  • 紅光:635 nm±10 nm @ FWHM: 15±10 nm
  • 綠光:525 nm±10 nm @ FWHM: 30 ±10 nm
  • 藍光:465 nm±10 nm @ FWHM: 20 ±10 nm
b. 均光面積:10 × 10 mm, >99 %
c. 工作距離:距離發光口25 cm
d. 光源不穩定度 <±0.3 %
e. 單色光發光強度
  • 紅光:30 μW/cm2 (約50 Lux)
  • 綠光:20 μW/cm2 (約100 Lux)
  • 藍光:30μW/cm2 (約7.5 Lux)
f. 最小發光強度
  • 紅光:0.3 μW/cm2 (約0.4 Lux)
  • 綠光:0.6 μW/cm2 (約2.0 Lux)
  • 藍光:0.9 μW/cm2 (約0.4 Lux)
g. 光強調節範圍
  • 手動粗調:10倍,100倍三級強度衰減,手動更換
  • 自動細調:電腦控制0-100%強度調整,0-255調整精度,重複精度優於1%(信噪比100以上)
h. 光源壽命:10000小時
近紅外光光源 a. 發光波長:940 nm±10 nm @ FWHM: 45±5 nm
b. 均光面積:10×10 mm, >99 %
c. 工作距離:距離發光口25cm
d. 光源不穩定度<±0.3%
e. 發光強度:> 30 μW/cm2
f. 可相容單色光可調光源模組, 手動改換光源
光能量校正模組 a. 探頭校正波長範圍:400-1000 nm,溯源美國NIST,ISO17025標定證書
b. 標定波長間隔10 nm
c. 面積10 ×10 mm2
d. BNC介面
控制系統 最新配置工控機,LCD,4GB RAM,DVD,Windows7系統
測量暗室 a. 暗室尺寸:85×80×90 cm(長寬高)
b. 低暗室環境噪音
c. 具塗層隔離環境雜散光
圖像採集 圖像採集卡介面:USB,GigE
相機樣品台 a. 三軸精度微調台,樣品載具
b. 樣品載具移動滑台
  • 移動行程:±55 mm
c. 三軸精密微調台
  • 移動行程:±6.5 mm
d. 旋轉定位台
  • 旋轉角度:0°~360°
  • 四點定位點:0°,90°,180°,270°
鐳射輔助對準系統 a. 三色波長光源切換功能
b. 變光強調整功能
MVIS-SWE
PTC測量分析軟體
a. 測量參數:
  • 光電響應動態範圍DR
  • 光電回應不均勻度
  • 光電回應線性度
  • 暗輸出不均勻性NUD
  • 系統增益G
  • 暗電流、暗雜訊
  • 飽和度
  • 單波長量子效率/光譜響應測試
  • 連續波長量子效率/光譜響應測試(搭配相關硬體)
b. 離線圖像分析功能
c. 自動測量功能(相機需要可以被系統控制)
MVIS-QE全波長量子效率測量模組 a. 連續譜QE測量功能
b. 全波長可調光源分光模組
c. 75 W氙燈白光光源
d. 橢圓聚光光學系統
e. 波長範圍:300-1100 nm
f. FWHM: 10 nm,5 nm,3 nm可調
g. 最小切換波長:1 nm
h. 波長重複性可達0.2 nm,準確度可達±0.2 nm
i. 光源不穩定性<1%
j. 自動雜光濾鏡組,濾除單色光雜光
k. 准直均勻光光學系統
l. 均光面積:
  • 40 × 40 mm(光斑照射面積)
  • 10 × 10 mm (均勻性>99 %)
m. 具備常規RS232通訊
n. 可測量參數:
  • 全波長量子效率測量
  • 全波長光譜回應測量
MVIS-HDR
全波長光強度調控模組
a. 全波長高動態範圍光強度變化功能
b. 自動線性光強調節器
c. 連續細調光強變化:
  • 光強控制範圍0-100 %
  • 掃描精度1 %
  • 重複精度優於3 %
  • 電腦自動控制或手動開關

特色點

● 獨家的均勻光系統,超高單色光光強

● 實現全陣列圖元測量

● 發散角度小於5度的准直單色光

● 豐富的相機介面

● 靈活的硬體擴展和升級能力

● 雷射定位

整合方案

系統可滿足使用Photon Transfer Method量測圖像感測器之各項參數所需的光學平臺:

● 量子效率/光譜響應

● 靈敏度

● 動態範圍 

● 暗電流/雜訊 

● 線性誤差LE

● 暗電流響應不均勻性

● 光電流響應不均勻性

● 主光線角度測量(Chief Ray Angle,CRA



應用 

●  CCD相機

●  CMOS相機

●  紫外光感測器

●  紅外光感測器

●  攝像頭 

● 其他類型光電器件


(a)專利均光系統發散角示意圖

(b)傳統積分球系統光發散角示意圖 (c)光斑投射在樣品之實際樣貌 (d)系統可產生連續不同光波長之單色光源

1-1 MVIS系統可產生高均勻度與高光強度的單色光光斑,具備絕佳的訊噪比,可精確測出感光組件的量子效率等相關光學特

1-2 市售工業級相機實測於 470 nm波長各項參數之量測結果

3 市售工業級相機實測於300 nm1100 nm 波長範圍量子效率之量測結果

4 光焱科技專利均光系統與傳統均光系統之照度比較

5 光焱科技專利均光系統與傳統均光系統之光通量比較



430 nm

均匀度99.04%



530 nm

均匀度99.06%



630 nm

均匀度99.05%

6 光焱專利均光系統於不同單色光下,均可達到高於99%均勻度
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