大面積/掃描式光學檢測儀

光致發光光譜儀 (1)

PLM光致發光光譜儀

.寬光譜測量。
.多種雷射器選擇:可內置多組雷射器,方便測量。
.快速掃描mapping能力。
.超小激發光斑:光斑最小可達50微米。
.百萬圖元攝像機:觀察樣品位置和光斑資訊。
.豐富的系統擴展能力。

載流子壽命測試儀 (1)

.超高精度的載流子壽命測量能力。
.獨特地可調式脈衝式光源,適合不同載子壽命的材料。
.人性化控制軟體,一鍵式載流子壽命測量軟體。
.強大硬體擴充能力,滿足多樣化高端測量分析需求。
.靈活的樣品倉設計,滿足固態與液態樣品應用。
.高達32678個時間通道的取樣能力,使曲線更精細。

鐳射掃描缺陷圖譜儀 (1)

LSD4鐳射掃描缺陷圖譜儀

.可掃描光電流再樣品表面的分佈圖像。
.可掃描各光電壓在樣品表面的分佈圖像。
.可掃描開路電壓與短路電流分佈。
.可分析表面髒汙、短路區域分佈、少數載子擴散長度分佈(選配)。
.可辨識分析隱裂區域。
.PV Response Mapping (選配擴充白光雷射器)。

鐳射共聚焦顯微鏡 (1)

SPCM-1000鐳射共聚焦顯微鏡

.完整鐳射螢光共焦顯微系統。
.非破壞性高分辨光學螢光影像。
.操作簡單、維護容易。
.納米空間尺度螢光光譜測量。
.最高可達4096x4096圖元顯像。
.可擴充時間解析光譜 (TCSPC)。
.可擴充螢光壽命成像顯微功能。