MV-IS光電圖像傳感器量子效率測試系統

型號 : MV-IS

MV-IS是光焱科技針對CCDCMOS影像感測器和攝像頭開發的評價系統。利用專利的均勻光技術比傳統積分器提供更強的光強,獨家的單色儀分光技術,可以測試波長解析度達到0.1 nm,大大提高了測試的準確性。測量的波長範圍可擴展到300 nm~1100 nm,是一款高性能的感測器綜合測試系統。


設備主要規格(可客制化)
單色光光源系統
  • 不穩定度 <1%
  • 強制散熱系統
  • 臭氧消除功能
  • 300 nm~1100 nm (可擴展)
  • 光柵式單色光產生
  • 輻射功率連續可調:0~100%
  • 波長解析度可達0.1 nm
  • 波長準確度±1 nm
  • 波長重複性±0.5 nm
均光系統-A
  • MV-IS光學系統,光斑大小30 mm×30 mm,針對主流CCD,CMOS晶片大小設計
  • 光斑均勻度≥99%
  • 光均面位置:距離均光系統出口150 mm
  • 光均面光強:>5 uw/cm2
  • 輻射功率連續可調
  • 單圖元QE測量:可以(光強足夠)
  • 發散角度(半形):<5度 (可訂制)
均光系統-B
  • 4寸積分球,均勻性99 %
標準光強能量校正器
  • BNC介面
  • 感應波長範圍 190 nm ~ 1100 nm
  • 標定證書
  • 面積10 × 10 cm2,不均勻度為千分之五
  • 電流計最小解析能力:10 fA
控制系統
  • 最新配置工控機,LCD ,4GB RAM,DVD,正版Windows7系統
測量暗室
  • 具塗層隔離環境雜散光
圖像採集
  • 圖像採集卡介面:USB、IEEE 1394、乙太網卡等
樣品台
  • 三軸精密微調台、樣品載具、雷射定位功能
軟體與開發工具
  • 系統各部件控制功能整合軟體
  • 各部件控制功能開發工具
    • 單光儀控制
    • 濾鏡轉輪控制
    • 電流計控制
    • 自動化載台控制(選配)
  • 客制化量測軟體(選配)

特色點

● 獨家的均勻光系統,超高單色光光強

● 實現全陣列圖元測量

● 發散角度小於5度的准直單色光

● 豐富的相機介面

● 靈活的硬體擴展和升級能力

● 雷射定位

整合方案

系統可滿足使用Photon Transfer Method量測圖像感測器之各項參數所需的光學平臺:

● 量子效率/光譜響應

● 靈敏度

● 動態範圍 

● 暗電流/雜訊 

● 線性誤差LE

● 暗電流響應不均勻性

● 光電流響應不均勻性

● 主光線角度測量(Chief Ray Angle,CRA



應用 

●  CCD相機

●  CMOS相機

●  紫外光感測器

●  紅外光感測器

●  攝像頭 

● 其他類型光電器件


(a)專利均光系統發散角示意圖

(b)傳統積分球系統光發散角示意圖 (c)光斑投射在樣品之實際樣貌 (d)系統可產生連續不同光波長之單色光源

1-1 MVIS系統可產生高均勻度與高光強度的單色光光斑,具備絕佳的訊噪比,可精確測出感光組件的量子效率等相關光學特

1-2 市售工業級相機實測於 470 nm波長各項參數之量測結果

3 市售工業級相機實測於300 nm1100 nm 波長範圍量子效率之量測結果

4 光焱科技專利均光系統與傳統均光系統之照度比較

5 光焱科技專利均光系統與傳統均光系統之光通量比較



430 nm

均匀度99.04%



530 nm

均匀度99.06%



630 nm

均匀度99.05%

6 光焱專利均光系統於不同單色光下,均可達到高於99%均勻度
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